高頻橡膠介電常數(shù)測試儀 概念:
電介質(zhì)在外電場作用下,其內(nèi)部會有發(fā)熱現(xiàn)象,這說明有部分電能已轉(zhuǎn)化為熱能耗散掉,電介質(zhì)在電場作用下,在單位時間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率,或簡稱介質(zhì)損耗(diclectric loss)。介質(zhì)損耗是應(yīng)用于交流電場中電介質(zhì)的重要品質(zhì)指標(biāo)之一。介質(zhì)損耗不但消耗了電能,而且使元件發(fā)熱影響其正常工作。如果介電損耗較大,甚至?xí)鸾橘|(zhì)的過熱而絕緣破壞,所以從這種意義上講,介質(zhì)損耗越小越好。
高頻橡膠介電常數(shù)測試儀 工作特性
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023;
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
c.標(biāo)稱誤差
| A(高頻) | C(工頻) |
頻率范圍 | 25kHz~10MHz | 100kHz~10MHz |
固有誤差 | ≤5%?滿度值的2% | ≤5%?滿度值的2% |
工作誤差 | ≤7%?滿度值的2% | ≤7%?滿度值的2% |
頻率范圍 | 10MHz~60MHz | 10MHz~160MHz |
固有誤差 | ≤6%?滿度值的2% | ≤6%?滿度值的2% |
工作誤差 | ≤8%?滿度值的2% | ≤8%?滿度值的2% |
2.電感測量范圍
A | C |
14.5nH~8.14H | 4.5nH~140mH |
3.電容測量
| A | C |
直接測量范圍 | 1~460p | 1~205p |
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 40~500pF | 18~220pF |
準(zhǔn)確度 | 150pF以下?1.5pF; 150pF以上?1% | 150pF以下?1.5pF 150pF以上?1% |
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。
4.信號源頻率覆蓋范圍
| A | C |
頻率范圍 | 10kHz~60MHz | 0.1~160MHz |
CH1 | 10~99.9999kHz | 0.1~0.999999MHz |
CH2 | 100~999.999kHz | 1~9.99999MHz |
CH3 | 1~9.99999MHz | 10~99.9999MHz |
CH4 | 10~60MHz | 100~160MHz |
頻率指示誤差 | 3?10-5?1個字 |
|
5.Q合格指示預(yù)置功能:預(yù)置范圍:5~1000
6.Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~ 40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V?22V,50Hz?2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c.外型尺寸:(寬?高?深)mm:380?132?280。
特點(diǎn):
作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)的160MHz。
1雙掃描技術(shù)-測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
2雙測試要素輸入-測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3雙數(shù)碼化調(diào)諧-數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4自動化測量技術(shù)-對測試件實施Q值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動測量。
5全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q值、信號源頻率、諧振指針。
6 DDS數(shù)字直接合成的信號源-確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
7計算機(jī)自動修正技術(shù)和測試回路最優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至最低,徹底根除Q讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
標(biāo)準(zhǔn)配置:
高配Q表 一只
試驗電極 一只(c類)
電感 一套(9只)
電源線 一條
說明書 一份
合格證 一份
保修卡 一份
使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。
1.測試注意事項
a.本儀器應(yīng)水平安放;
b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預(yù)熱30分鐘;
c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當(dāng)接近諧振點(diǎn)時請緩調(diào);
d.被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。
2.高頻線圈的Q值測量(基本測量法)
影響介電性能的因素
下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對介電性能的影響。
1頻率
因為只有少數(shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的。r和tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。
電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,最重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的.
2溫度
損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個最大值,這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)最大值位置。
3濕度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗前和試驗時對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是必不可少的.
注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)
4電場強(qiáng)度
存在界面極化時,自由離子的數(shù)目隨電場強(qiáng)度增大而增加,其損耗指數(shù)最大值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下,只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān)
試驗步驟
1試樣的制備
試樣應(yīng)從固體材料上截取,為了滿足要求,應(yīng)按相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)方法的要求來制備。
應(yīng)精確地測量厚度,使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以內(nèi),測量點(diǎn)應(yīng)均勻地分布在試樣表面。必要時,應(yīng)測其有效面積。
2條件處理
條件處理應(yīng)按相關(guān)規(guī)范規(guī)定進(jìn)行。
3測量
電氣測量按本標(biāo)準(zhǔn)或所使用的儀器(電橋)制造商推薦的標(biāo)準(zhǔn)及相應(yīng)的方法進(jìn)行。
在1 MHz或更高頻率下,必須減小接線的電感對測量結(jié)果的影響。此時,可采用同軸接線系統(tǒng)(見圖1所示),當(dāng)用變電抗法測量時,應(yīng)提供一個固定微調(diào)電容器。
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