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類型:反射式
微距測(cè)試卡簡(jiǎn)介
微距測(cè)試卡TE274設(shè)計(jì)用于分析在微距模式下單反相機(jī)系統(tǒng)以及小型相機(jī)的微距鏡頭的分辨率和失真。
微距測(cè)試卡TE274由兩部分組成:
斜邊用于分辨率測(cè)量
該測(cè)試卡包含15個(gè)斜邊結(jié)構(gòu),每個(gè)具有兩個(gè)垂直和兩個(gè)水平
邊緣和聚焦輔助在中心。斜邊結(jié)構(gòu)傾斜5?并且具有大約97%的調(diào)制。
斜邊以一種方式布置,以在圖像高度(3:2縱橫比)的30%,45%,60%和75%處遞送軸分辨率和分辨率。
交叉圖用于失真測(cè)量
白色背景上的黑色十字用于確定透鏡幾何畸變(LGD)和色差。
將微距測(cè)試卡放在相機(jī)外的桌子上。從測(cè)試卡的上部(斜邊)開始,將框架中的測(cè)試卡滑動(dòng)到向下位置。調(diào)整相機(jī)和測(cè)試卡之間的距離,直到斜邊圖表填滿圖像高度。拍攝圖像后,將圖框滑動(dòng)到上邊框。現(xiàn)在失真部分恰好在用于拍攝圖像的位置。不需要重新調(diào)整或重新聚焦。
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