inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)車規(guī)級(jí)芯片測(cè)試
在車規(guī)級(jí)芯片可靠性測(cè)試方面, 上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream ATS 系列高低溫測(cè)試機(jī)有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨(dú)特優(yōu)勢(shì): 變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18?C, 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 亦可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度, 可針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC, 單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.
車規(guī)級(jí)芯片高低溫測(cè)試案例: 上海伯東客戶某知名半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)公司自主設(shè)計(jì)及研發(fā)國(guó)產(chǎn)車載芯片, 要求在溫度范圍 - 50 ℃~ 150 ℃ 時(shí)搭配模擬和混合信號(hào)測(cè)試儀, 在電工作下檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項(xiàng)功能是否正常. 經(jīng)過伯東推薦, 客戶采購(gòu) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-545, 測(cè)試溫度范圍 -75 至 225?C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ?1℃, 通過使用該設(shè)備, 大幅提高工作效率, 并能及時(shí)評(píng)估研發(fā)過程中的潛在問題, 使產(chǎn)品符合汽車安全的電子產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)!

車規(guī)級(jí)芯片高低溫測(cè)試方法
1. 將被測(cè)芯片或模塊放置在測(cè)試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應(yīng)治具上 ( 產(chǎn)品放在治具中 ).
2. 設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍.
3. 啟動(dòng) ThermoStream ATS-545, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入高低溫測(cè)試機(jī)內(nèi)部制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫, 氣流通過玻璃罩進(jìn)入測(cè)試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度.
4. 在汽車電子芯片測(cè)試平臺(tái)下, 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-545 快速升降溫至要求的設(shè)定溫度, 實(shí)時(shí)檢測(cè)芯片在設(shè)定溫度下的在電工作狀態(tài)等相關(guān)參數(shù), 對(duì)于產(chǎn)品分析, 工藝改進(jìn)以及批次的定向品質(zhì)追溯提供確實(shí)的數(shù)據(jù)依據(jù).

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