冠層是指林木枝葉的稠密頂層，研究冠層結(jié)構(gòu)可獲知冠層中光線穿透情況、冠層生產(chǎn)力等基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。在農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中，作物群體結(jié)構(gòu)是影響冠層光分布的重要因素。合理的群體結(jié)構(gòu)、良好的冠層內(nèi)光輻射分布以及較高的光能利用率與作物高產(chǎn)密不可分。生產(chǎn)中常通過栽培措施調(diào)整株型和葉片的方位等來影響冠層結(jié)構(gòu)，從而改善光的有效截獲。利用冠層分析儀便可快速分析冠層受光狀況，為植物冠層研究、農(nóng)業(yè)生產(chǎn)提供基礎(chǔ)的數(shù)據(jù)資料。

農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中，種植密度是影響群體冠層結(jié)構(gòu)的重要參數(shù)，在一定的密度范圍內(nèi)群體的葉面積、光合勢、地上部干物質(zhì)積累和冠層光截獲量均隨密度的增加而增加。但是隨密度的進一步升高，作物生育后期過高的冠層高光戴獲率，將削弱中下部葉片的光照條件，降低群體生產(chǎn)能力。冠層分析儀能測量冠層葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、PAR、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、葉面積密度的方位分布等，它采用圖像分析法，通過攝像頭和專用分析軟件來對冠層的有效圖像區(qū)域進行分析、測量（分區(qū)分析），保證測量數(shù)據(jù)更加精確。

另外，TOP-1200型冠層分析儀通過光譜分析，耦合作物生長監(jiān)測診斷模型，可獲取作物生長信息，并診斷作物氮素匱缺情況。可測量作物冠層植被指數(shù)RVI和NDVI，包括葉層氮含量、葉層氮積累量、葉面積指數(shù)、葉干重等生長指標。它們的應(yīng)用，為植物冠層研究提供了很大的助力。

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冠層分析儀http://www.tpynkj.net/product/index/79.html